高溫環(huán)境XRD即X-ray diffraction，通過(guò)對材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線(xiàn)是一種波長(cháng)很短(約為20～0.06nm)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線(xiàn)中，包含與靶中各種元素對應的具有特定波長(cháng)的X射線(xiàn)，稱(chēng)為特征（或標識）X射線(xiàn)。
x射線(xiàn)是一種具有較短波長(cháng)的高能電磁波，由原子內層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產(chǎn)生。X射線(xiàn)的波長(cháng)范圍為0.01~100A，介于紫外線(xiàn)和y射線(xiàn)之間，并有部分重疊峰。本質(zhì)與可見(jiàn)光相同的電磁波，具有類(lèi)似于可見(jiàn)光、電子、質(zhì)子、中子等的性質(zhì)--波粒二象性。x射線(xiàn)顯示波動(dòng)性時(shí)，有一定的頻率和波長(cháng)，表現出衍射現象x射線(xiàn)與可見(jiàn)光相比，除具有波粒二象性的共性之外，還因其波長(cháng)短、能量大而顯示其特性：①穿透能力強；②折射率幾乎等于1；③透過(guò)晶體時(shí)發(fā)生衍射。
高溫環(huán)境XRD結構分析，對新發(fā)現的合金相進(jìn)行測定，確定點(diǎn)陣類(lèi)型、點(diǎn)陣參數、對稱(chēng)性、原子位置等晶體學(xué)數據。液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬研究非晶態(tài)金屬和液態(tài)金屬結構，如測定近程序參量、配位數等。特殊狀態(tài)下的分析，在高溫、低溫和瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)分析。此外，小角度散射用于研究電子濃度不均勻區的形狀和大小，X射線(xiàn)形貌術(shù)用于研究近完整晶體中的缺陷如位錯線(xiàn)等，也得到了重視。
X射線(xiàn)分析的新發(fā)展：金屬X射線(xiàn)分析由于設備和技術(shù)的普及已逐步變成金屬研究和材料測試的常規方法。早期多用照相法，這種方法費時(shí)較長(cháng)，強度測量的準確度低。50年代初問(wèn)世的計數器衍射儀法具有快速、強度測量準確，并可配備計算機控制等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)得到廣泛的應用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。
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